XUV/VUV光谱仪_欣禾电子（上海）有限公司

XUV/VUV光谱仪

请求报价

H+P公司的XUV/VUV光谱仪采用平面掠入射具有像差校正的特点，三块光栅波长范围分别为1-20nm,5-80nm和40-200nm,总波长覆盖范围为1nm-200nm.光谱仪采用无狭缝入射能够提高光谱仪灵敏度。模块化设计能够满足不同实验的结构配置需求。它集成了狭缝固定架、滤波插入装置以及光栅电动定位装置。

厂家

产品分类

热门产品

激光器与光器件

光谱影像设备及附件

极紫外光谱仪

XUV/VUV光谱仪

我们的XUV/VUV光谱仪具有像差校正的平场波长覆盖范围从1nm到200nm。宽带光谱测量可以通过覆盖1-20nm、5-80nm和40-200nm的三个光栅实现。光谱仪可以在没有入口狭缝的情况下使用，以最大限度地收集光源距离范围内的光。它的模块化设计能够匹配不同的实验几何形状和配置。它具有一个集成的狭缝夹和过滤器插入单元，以及一个电动光栅定位。

特点：

平场入射光栅光谱
单光栅波长范围覆盖5-80nm
也可以选择1-5nm光谱
三种不同的几何结构
不同的探测器选择：X-ray CCD相机或MCP锥形光纤
工作气压<10-6mbar,也可以提供无油气泵的独立真空系统

Wavelength [nm]	1-10	3-20	5-40	10-60	25-80	40-200
Operation mode	slit-less	slit-less	slit-less	slit-less	slit-less	slit-less
Source distance [m]	flexible	flexible	flexible	flexible	flexible	flexible
Flat-field size [mm]	35	45	21	50	50	100
Dispersion [nm/mm]	0.2 – 0.35	0.3 – 0.4	0.5 – 0.65	0.7 – 1.1	0.9 – 1.3	≈ 2.0
Resolution [nm]	< 0.03	< 0.035	< 0.06	< 0.09	< 0.11	< 0.15

* Other configurations (spectral range, slit operation, high-resolution, etc) available upon request.

定制：

每一个光谱仪都是定制的，完全符合所需的应用，例如。

与实验室的接口
源距自适应
集成客户提供的探测器
用户定义的过滤器安装

下面的图像可以证明XUV光谱仪的测量能量。它展现的是滤波后的单发飞秒激光脉冲的高次谐波谱。上面的图显示了x-ray CCD探测到的原始影像，而下面的图显示的是柱条叠加后的谐波图谱。这个过程都由XUV光谱仪自动完成。