咨询热线：
021-51001982
12C 型探头是一种高速、高输入阻抗的有源探头，可用于测量集成电路的内部节点电压。探头输入为1兆欧，分流0.1 pf，上升/下降时间为0.8 ns，具有全直流功能，可与任何示波器一起使用。12C 型经过特殊设计，当与高输入阻抗示波器配合使用时，信号衰减为 10：1，使用 50 欧姆输入时，信号衰减为 20：1。
12C 型探头具有坚固、可靠、高速的特征，非常适用于集成电路的负载。它可用于高速双极性、NMOS和CMOS电路的故障排除，甚至对一些保持时间较短的动态节点进行故障排除时也适用。并且12C 型探头的每个放大器都经过单独优化，以实现最佳性能和可靠性。
相关产品
GGB ST SERIES
ST SERIES
GGB Industries， Inc. 提供的 ST SERIES探头尖端由直径为 0.020 英寸（0.51 毫米）的实心钨轴精密制成，这些耐用的 1.5 英寸长实心钨轴探头尖端用于大多数标准微定位器，用于探测集成电路、焊盘或线路。
【厂家】 GGB Industries Inc
【产品分类】 测试与仪器 - 探针台 - 探针
GGB T-4 SERIES
T-4 SERIES
T-4 尖端用于大多数标准商用微定位器，用于探测集成电路、焊盘或线路，每个T-4尖端使用22、35、60、125 或 12 微米直径钨丝。
【厂家】 GGB Industries Inc
【产品分类】 测试与仪器 - 探针台 - 探针
GGB DIFFERENTIAL CALIBRATION SUBSTRATE
差分校准基板
GGB Industries， Inc. 的差分校准基板系列允许用户在探头尖端校准任何 GGB Industries， Inc. 的微波 Picoprobe®系列探头。
【厂家】 GGB Industries Inc
【产品分类】 测试与仪器 - 探针台 - 探针
收起
请求报价
热线电话
021-51001982
关注我们
收起
邮件订阅
数据加载中,请稍后... |