GGB Industries MULTI-CONTACT WEDGE 可根据您的电路进行定制配置，从而使芯片的设计更加灵活。四个楔块可以同时用于探测整个芯片。

多触点楔块采用单独弹簧加载的铍铜尖端，即使在探测非平面结构时也能提供可靠的触点。这种可靠的低电阻触点是提供高可重复测量的关键之一。多触点楔块还可以直接查看探头尖端，以实现精确定位。

        当与标准微波探针台一起使用时，楔块可以首先定位到任何微波校准标准，然后移动到要测试的MMIC或模块上的位置。

        楔块上的探测点甚至可以设置为不同的深度，以便可以成功探测多级模块。可以指定 50 到 1250 微米的任何间距（尖端间距），更大间距的探头，可根据需要的间距尺寸制定。探头可以配置接地-信号-接地 （G，S，G）、接地信号 （G，S） 或信号接地 （S，G） 针尖封装。

        通过母 K 连接器连接到 40A 型，并与 SMA 和 3.5mm 连接器兼容。通过一个 2.4mm母连接器连接到 50A 型。与 67A 型的连接是通过母 V 型连接器实现的，并与 2.4mm 连接器兼容。通过 W （1.1mm） 或 1.0 mm 连接器连接到 110A 型。

        GGB Industries， Inc. 的 MCW-14 和 MCW-26 多触点楔块在测试中，是为电路提供直流或电源的灵活替代方案。每个楔块都是根据您的电路布局定制的，并为电容器提供三个替代位置，直接查看探针以准确定位，并且可以配置14引脚或26引脚连接器。该连接器由位于 0.025 英寸中心的双排 0.1 英寸方形引脚组成，为用户提供了一个灵活而有用的连接点。

        探头针可以设置为不同的深度，以便可以成功探测多级模块。MCW-14 和 MCW-26 多触点楔块的独特设计确保了可靠的接触，即使在探测非平面结构时也是如此，并且在与任何标准微波探针台一起使用时都可以轻松定位。

特征

• 耐用
• DC 至 40、50、67 或 110 GHz 混合射频和直流
• 触点：每侧最多 9 个射频探头
• 用于MMIC或模块探测
• 单独弹簧加载触点
• 廉价、快速、定制制造
• 根据您的布局定制的每个楔形
• 获得专利的同轴设计