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元器件参数测试
欣禾电子为元器件研发、生产测试、QC检测和设计验证等各种应用提供可靠、准确的测试测量解决方案。
LCR测试仪
IM3536
DC，4Hz~8MHz测量频率
延续日置LCR触摸屏的操作风格，DC，4Hz~8MHz宽量程的测试范围。更标配了电导率和介电常数的测试功能。配合自动化产线，带检查检查功能，本机测试最快1ms。
【厂家】 日置（HIOKI）
【产品分类】 测试与仪器 - 通用电子测试 - 元器件参数测试
阻抗分析仪
IM7587
高端机型3GHz
LCR模式和阻抗分析模式二合一机型，最高3GHz，最快测试速度0.5ms，带等效回路分析功能
【厂家】 日置（HIOKI）
【产品分类】 测试与仪器 - 通用电子测试 - 元器件参数测试
电池阻抗测试仪
BT4560
锂电池的可靠性判断 10秒
无需充放电的低频AC-IR测试，大幅缩短电池单元内部电阻检查时间
【厂家】 日置（HIOKI）
【产品分类】 测试与仪器 - 通用电子测试 - 元器件参数测试
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